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      Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀具有哪些優勢特點?

      發表時間:2021-12-06      點擊次數:586
      離子束切割儀是一種用于物理學領域的工藝試驗儀器,用于樣品的截面制備及平面拋光。Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀可以靈活選擇多種樣品臺,不僅適用于高通量實驗,也適合于特定制樣需求實驗室。儀器可用來制備橫切面和拋光表面,用于掃描電子顯微鏡 (SEM)、微觀結構分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。
       
      Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀具有哪些優勢特點?
       
      1、*的三離子束系統,可獲得更好的截面處理質量,快速獲得寬且深的切割區域,大大降低工作時間。并可實現在一次處理過程中處理 3 個樣品。因此對有高通量需求的實驗室,徠卡EM TIC 3X是更理想的解決方案。
       
      2、樣品托:多種多樣的樣品托,適合于各類尺寸樣品
       
      3、可裝配系統:根據樣品制備需要,可以有針對性地在徠卡EM TIC 3X上裝配一體化設計樣品臺——標準樣品臺、多樣品臺或冷凍樣品臺。
       
      4、樣品TOPO結構清晰可見:除了剖面切割,使用同一樣品托還可對樣品進行清潔及增強襯度的功能。
       
      5、冷凍樣品臺:針對溫度敏感型樣品如橡膠或水溶性高分子聚合纖維等,可以使用冷凍樣品臺對樣品進行低溫下處理,獲得高質量處理結果。樣品托和擋板的溫度都可達到-150℃。
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